- 發布:2026年04月23日
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圖/本報資料庫商傳媒|責任編輯/綜合外電報導為因應人工智慧(AI)與高效能運算(HPC)晶片日益增長的測試需求,半導體測試設備大廠Advantest 今日宣布推出 Pin Scale 5000B 數位測試解決方案。這項新品將擴展其 V93000 EXA Scale 測試平台的效能,旨在解決先進製程節點、異質整合及小晶片(chiplet)架構帶來的複雜度挑戰。 現今 AI 與 HPC 半導體的能力與複雜性正快速提升,需要顯著更高的結構性與功能性測試覆蓋率,並處理快速增加的測試數據量。Pin Scale 5000B 數...









